為更好地服務全國的科研用戶，為全國高校、研究所的科研工作提供技術保障，為植物表型科研領域研究人員更深入地了解的產(chǎn)品及測量技術，上海澤泉科技股份有限公司將于2016年5月31日至6月7日分別在長沙、武漢、南京和北京四地舉辦2016澤泉科技植物表型技術服務周。會議內(nèi)容包括AgriPheno™高通量植物表型平臺介紹、葉綠素熒光技術、表型分析與LemnaTec表型系統(tǒng)的性狀分析的應用、自動取樣與種子質(zhì)量控制解決方案、整幅圖片的影響力—植物根系分析等。

        現(xiàn)向全國高校、研究所科研人員發(fā)出誠摯邀請，期待您的光臨！上海澤泉科技股份有限公司將攜手LEMNATEC、 ALCI、 Force-A、 Phenotyping Screening走進實驗室，竭誠為您服務，期待與您的交流與合作。

        會議日程：

        參會須知：

1、參會回執(zhí)：請參會人員于5月27日前將參會回執(zhí)（附件1）通過電子郵件發(fā)送至：alice.shi@zealquest.com，或傳真發(fā)至。

2、會議費用：參會免費。交通、食宿、旅游費用自理。

        會務組：

1、 參會回執(zhí)接收：alice.shi@zealquest.com；參會回執(zhí)接收

2、長沙會場會務：胡靜，：  

3、 武漢南京會場會務：陳登科，：

4、北京會場會務：王海鋒，：

        附件：

附件1：2016澤泉科技植物表型技術服務周 參會回執(zhí)

附件2：2016澤泉科技植物表型技術服務周日程表

附件3：AgriPheno平臺服務項目春季優(yōu)惠通知

上海澤泉科技股份有限公司

2016年5月23日